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McPherson发布251MX型光谱仪

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摘要 McPherson公司发布了一款X射线极紫外(EUV)光谱仪:251MX,波长测量范围为0.6—20nm(60—2000eV)
出处 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2009年第2期9-9,共1页 Laser & Optoelectronics Progress
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