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用二次离子质谱仪(SIMS)对矿物中单个流体包裹体... 预览 被引量:1

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摘要 使用CAMECA-4F型离子探针的SIMS方法已经达到这样的水平,即可定量分析预选的直径小至3μm、盐度稀达0.37mol%的单个流体包裹体的元素比。该方法首先由Nambu等(1977)进行过尝试,是在真空中用1.25keV的氧离子(O~-)束轰击寄主晶,来打开流体包裹体,因而对样品是破坏性的。在质谱仪中分析发射的二次离子,其强度与作靶用的包裹体中母体元素的浓度成正比。Na-mbu等(1977)分析冷冻包裹体,获得了包裹体中液体的K/Na比和Ca/Na比,其相对重现性(2σ/(?))分别为50—65%和80—200%。 对Na~+、K~+、Ca~+的二次离子生成量用总盐度为0.37—3.3 mol%,且K/Na、Ca/Na比为0.005—1.0的合成流体包裹体进行经验校正。由此得出,采自马尼托巴东南部比塞特的圣安东尼奥太古宙金矿床的石英中单个含金流体包裹体中的K/Na=0.036+0.04/-0.02,Ca/Na=0.034+0.07/-0.03。一次离子束的最佳空间控制允许打开单个包裹体,而不影响相邻的包裹体。此方法最为有效的应用是分析含多个世代流体包裹体的天然样品。
出处 《地质地球化学》 CSCD 北大核心 1992年第1期 47-54,共8页 Geology-Geochemistry
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