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标准可测性总线(T—BUS) 预览
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作者 刘家松 《微电子测试》 1993年第2期 5-13,4,共10页
关键词 集成电路 电子器件 测试 总线
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自动测试仪故障诊断系统 预览
2
作者 姚成胜 《LSI制造与测试》 1989年第4期 43-47,共5页
关键词 LSI/VLSI 测试仪 故障 诊断
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Defects detection in typical positions of bend pipes using low-frequency ultrasonic guided wave 预览
3
作者 罗更生 谭建平 +1 位作者 汪亮 许焰 《中南大学学报:英文版》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第10期3860-3867,共8页
In order to analyze the possibility of detecting defects in bend pipe using low-frequency ultrasonic guided wave, the propagation of T(0,1) mode and L(0,2) mode through straight-curved-straight pipe sections was studi... In order to analyze the possibility of detecting defects in bend pipe using low-frequency ultrasonic guided wave, the propagation of T(0,1) mode and L(0,2) mode through straight-curved-straight pipe sections was studied. FE(finite element) models of bend pipe without defects and those with defects were introduced to analyze energy distribution, mode transition and defect detection of ultrasonic guided wave. FE simulation results were validated by experiments of four different bend pipes with circumferential defects in different positions. It is shown that most energy of T(0,1) mode or L(0,2) mode focuses on extrados of bend but little passes through intrados of bend, and T(0,1) mode or L(0,2) mode is converted to other possible non-axisymmetric modes when propagating through the bend and the defect after bend respectively. Furthermore, L(0,2) mode is more sensitive to circumferential notch than T(0,1) mode. The results of this work are beneficial for practical testing of pipes. 展开更多
关键词 缺陷检测 超声导波 弯管 位置 低频 弯曲管道 有限元模型 应用
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低噪声放大器的自动测试开发 预览 被引量:1
4
作者 张凯虹 苏扬 武乾文 《电子与封装》 2016年第11期7-9,22共4页
如何快速又精确地输出低噪声放大器的测试值并使测试值符合测试规范是研究重点。基于多个测试仪器对低噪声放大器的特性参数进行测试开发。矢量网络分析仪完成S参数的测试,噪声测试仪完成噪声系数测试,信号源与频谱仪配合完成三阶交... 如何快速又精确地输出低噪声放大器的测试值并使测试值符合测试规范是研究重点。基于多个测试仪器对低噪声放大器的特性参数进行测试开发。矢量网络分析仪完成S参数的测试,噪声测试仪完成噪声系数测试,信号源与频谱仪配合完成三阶交调交叉点测试,信号源与功率计配合完成1dB增益压缩点测试。通过GPIB或TCP/IP实现仪器通信,使用计算机编程对整个流程实现自动控制,最后将测试结果返回计算机并显示,测试结果符合规范。实验证明,在实际应用中该方法快速精确并具有很好的通用性,可拓展到其他芯片的测试。 展开更多
关键词 低噪声放大器 S参数 噪声系数
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AS5270A/B磁性位置传感器 预览
5
《传感器世界》 2017年第7期48-49,共2页
艾迈斯半导体(amsAG)宣布推出全新磁性位置传感器产品系列,具备更优良的安全性能和诊断能力,帮助汽车OEM厂商达到在IS026262ASIL中最高安全等级。
关键词 位置传感器 磁性 诊断能力 安全性能 安全等级 半导体 OEM
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SoC测试结构复用技术研究 预览 被引量:1
6
作者 张弘 李玉山 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期 48-50,53,共4页
在设计基于IP模块的SoC同时,必须引入可测性设计以解决SoC的测试问题.为了简化SoC中的可测性设计的工作,本文设计了一种新型测试结构复用技术,通过分析SoC内部的各种测试应用情况,实现了一个兼容IEEE1149.1标准的通用测试访问逻辑IP.在... 在设计基于IP模块的SoC同时,必须引入可测性设计以解决SoC的测试问题.为了简化SoC中的可测性设计的工作,本文设计了一种新型测试结构复用技术,通过分析SoC内部的各种测试应用情况,实现了一个兼容IEEE1149.1标准的通用测试访问逻辑IP.在运动视觉SoC中的应用以及仿真结果验证了这种测试复用结构的有效性,并有助于提高SoC的测试覆盖率. 展开更多
关键词 SOC 测试结构 复用技术 系统芯片 可测性设计 知识产权
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基于SystemC和ISS的软硬件协同验证方法 预览
7
作者 杜旭 黄飞 黄建 《微计算机信息》 北大核心 2007年第32期 147-149,165,共4页
随着SoC的出现和发展,软硬件协同验证已经成为当前的研究热点。本文对传统的基于ISS的软硬件协同验证方法进行改进,提出了一种基于SystemC和ISS的软硬件协同验证方法。该方法使用SystemC分别对系统进行事务级、寄存器传输级的建模,... 随着SoC的出现和发展,软硬件协同验证已经成为当前的研究热点。本文对传统的基于ISS的软硬件协同验证方法进行改进,提出了一种基于SystemC和ISS的软硬件协同验证方法。该方法使用SystemC分别对系统进行事务级、寄存器传输级的建模,在系统验证早期进行无时序的软硬件协同验证,后期进行时钟精确的软硬件协同验证。并对仿真速度进行了优化。同传统的基于ISS的软硬件协同验证方法相比,该方法保证了软硬件的并行开发,且仿真速度快、调试方便,是一种高效、高重用性的软硬件协同验证方法。 展开更多
关键词 软硬件协同验证 指令集仿真器 SYSTEMC 事务级建模 仿真加速
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质量控制与检测 预览
8
作者 曹继汉 樊融融 《电子电路与贴装》 2009年第3期 17-20,共4页
3.4组装件的检查与测试 关于SMT组装产品的质量检查,目前最常用的方法分接触式检测和非接触式检查两大类。非接触式检查是对检查工件不接触、不破坏,无损伤的检查方法,包括目测和自动光学检测(AOI)等。而接触式检测技术是通过探... 3.4组装件的检查与测试 关于SMT组装产品的质量检查,目前最常用的方法分接触式检测和非接触式检查两大类。非接触式检查是对检查工件不接触、不破坏,无损伤的检查方法,包括目测和自动光学检测(AOI)等。而接触式检测技术是通过探针直接接触到工件上,进行电气性能和功能等迅速而有效的测试,包括在线通断测试和具体功能测试。 展开更多
关键词 自动光学检测 质量控制 质量检查 非接触式 功能测试 SMT组装 直接接触 检测技术
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安捷伦推出支持1xEV—DOeHRPD协议堆栈的综合测试仪 预览
9
《中国电子商情:基础电子》 2009年第9期 93,共1页
安捷伦科技公司日前宣布推出Agilent8960无线通信测试仪。该测试仪支持1xEV-DO增强型高速分组数据(eHRPD)标准,并可运行AgilentE6706C实验室应用软件。这款业界首创的综合测试解决方案将会帮助工程师测试和验证最新eHRPD设计与现有1x... 安捷伦科技公司日前宣布推出Agilent8960无线通信测试仪。该测试仪支持1xEV-DO增强型高速分组数据(eHRPD)标准,并可运行AgilentE6706C实验室应用软件。这款业界首创的综合测试解决方案将会帮助工程师测试和验证最新eHRPD设计与现有1xEv-DO设计和未来LTE设计之间的互通性能。 展开更多
关键词 安捷伦科技公司 测试仪 协议 无线通信 应用软件 综合测试 增强型 实验室
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探针软接触技术 预览
10
作者 聂海谱 《微电子技术》 1995年第2期 49-50,48,共3页
本文研究了探针的软接触技术,给出了软探针的结构示意图,介绍了软探针的特点、制造和应用。
关键词 探针 软接触 硅材料 制造
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浅议电路板的故障诊断与维修策略 预览
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作者 董新友 《中国高新技术企业》 2012年第22期78-80,共3页
文章以电路板为研究对象,从电路板的故障诊断方法分析以及电路板的维修策略分析这两个方面入手,围绕电路板的故障与维修这一中心问题展开了较为详细的分析与阐述,并据此论证了高质量的故障诊断与维修作业在进一步提高电路板工作质量与... 文章以电路板为研究对象,从电路板的故障诊断方法分析以及电路板的维修策略分析这两个方面入手,围绕电路板的故障与维修这一中心问题展开了较为详细的分析与阐述,并据此论证了高质量的故障诊断与维修作业在进一步提高电路板工作质量与运行可靠性的过程中所起到的作用与意义。 展开更多
关键词 电路板 故障诊断 维修策略
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AOI在检测SMT焊接质量中的应用研究 预览
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作者 郝东 《电子技术与软件工程》 2015年第17期125-125,共1页
AOI是一种新型光学检测设备,用于检测印制线路板焊接的微小件及常见缺陷。本文介绍了AOI的基本纽成、工作原理及作用,重点论述了将AOI应用于SMT(表面贴装技术)生产线申,可明显提高产品焊接质量和检验效率。
关键词 AOISMT 印制线路板检测质量
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如何正确使用集成电路
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作者 德沅 《家电维修》 1989年第2期25-25,共1页
关键词 集成电路 使用 检测
RISC结构的IP核验证与测试 预览 被引量:2
14
作者 金西 丁文祥 贠超 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第11期 32-35,共4页
以一个8位的RISC体系的CPU核为例,介绍了如何将IC设计中的IP Core和FPGA两项技术结合起来,并给出了IP核模块的验证与测试的方法.
关键词 RISC结构 IP核 验证测试 集成电路 SOC芯片
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模拟与混合信号
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《EDN CHINA 电子设计技术》 2007年第5期 163-164,共2页
高压霍尔开关电路,为电容感应解决方案推出的新型感应方法,符合QMLV标准的高精度卫星通信系统放大器,小封装的多通道数模转换器,高性能PLL时钟产生器,高速差分传输用小型片式共模扼流圈阵列。
关键词 混合信号 模拟 霍尔开关电路 卫星通信系统 数模转换器 时钟产生器 共模扼流圈 差分传输
最新禽流感微芯片检测只需2小时 预览
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《兽医导刊》 2008年第4期 52,共1页
据英国《每日邮报》报道,欧洲顶级半导体公司意法半导体STMicroelectronics称他们已经开发出了一种可行的微芯片,可以探查流感病毒,其中包括禽流感,检测过程仅需2个小时。这一装置像是在芯片上运行一个微型实验室,可以通过一次性... 据英国《每日邮报》报道,欧洲顶级半导体公司意法半导体STMicroelectronics称他们已经开发出了一种可行的微芯片,可以探查流感病毒,其中包括禽流感,检测过程仅需2个小时。这一装置像是在芯片上运行一个微型实验室,可以通过一次性分析检测,在两小时内扫描和辨认出多种病原体和基因,包括A型和B型人类流感病毒,抗药性病毒,以及病毒变种如H5N1禽流感病毒等。 展开更多
关键词 H5N1禽流感病毒 芯片检测 小时 意法半导体 半导体公司 检测过程 病毒变种 微芯片
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Wrapper扫描链均衡与系统芯片测试调度的联合优化算法 预览 被引量:4
17
作者 王佳 张金艺 +1 位作者 林峰 江燕辉 《上海大学学报:自然科学版》 CAS CSCD 北大核心 2009年第4期 336-341,共6页
提出用于均衡Wrapper扫描链的交换优化算法以及用于测试调度的局部最优算法,这两种算法依据测试总线空闲率(IBPTB)指标,可从IP层和系统顶层对系统芯片(SOC)测试时间实现联合优化,进而使SOC的测试时间大大降低.为了验证两种算法... 提出用于均衡Wrapper扫描链的交换优化算法以及用于测试调度的局部最优算法,这两种算法依据测试总线空闲率(IBPTB)指标,可从IP层和系统顶层对系统芯片(SOC)测试时间实现联合优化,进而使SOC的测试时间大大降低.为了验证两种算法及其联合优化性能的有效性和可靠性,对基于ITC’02国际SOC基准电路进行了相关的验证试验.针对p93791基准电路中core6IP核,交换优化算法能得到比经典BFD(best fit decreasing)算法更均衡的Wrapper扫描链,在最佳情况下最长Wrapper扫描链长度减少2.6%;针对d695基准电路,局部最优算法根据IP核的IBPTB指标,可使相应SOC的测试时间在最优时比经典整数线性规划(ILP)算法减少12.7%. 展开更多
关键词 Wrapper扫描链均衡 测试调度 联合优化
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一种有效降低扫描结构测试功耗的方法 预览 被引量:1
18
作者 张红南 王松 +2 位作者 徐君 李向库 张志伟 《湖南大学学报:自然科学版》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第12期 45-48,共4页
提出了一种有效降低扫描测试功耗的设计方案.通过增加逻辑门结构来控制测试向量移入阶段扫描链上触发器翻转向组合逻辑电路的传播.同时,设计了时序优化算法以保持电路其他性能不发生大的改变.实验结果显示:通过采用ISCAS89基准测... 提出了一种有效降低扫描测试功耗的设计方案.通过增加逻辑门结构来控制测试向量移入阶段扫描链上触发器翻转向组合逻辑电路的传播.同时,设计了时序优化算法以保持电路其他性能不发生大的改变.实验结果显示:通过采用ISCAS89基准测试程序进行分析,优化前无用动态功耗值约占总功耗的19.84%,优化后整体测试功耗降低约23%,有效地降低了无用动态功耗,并且此方案容易在已有的设计流程里实现. 展开更多
关键词 扫描测试 测试向量 组合逻辑电路 动态功耗
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基于Credence Gemini500的内嵌式AD转换器测试方法研究 预览 被引量:2
19
作者 鞠家欣 姜岩峰 +2 位作者 杨兵 张晓波 于韶光 《电子测试》 2010年第1期 34-37,43,共5页
本文中应用Credence公司的Gemini500测试系统对某一SoC芯片内嵌模数转换器进行了测试。根据芯片功能分析和封装形式,对测试板进行了优化设计。根据内嵌式ADC的时序特点进行了测试向量的设计。
关键词 内嵌模数转换器 测试模式 片上系统
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不用装系统 在线体验网页版WINDOWS 7 预览
20
《网友世界》 2010年第3期 63,共1页
Windows 7发布已经有不少天了,相信由于种种原因,目前进有相当一部分用户还没用上这歉强大的操作系统。那好,对于那些还没有装Windows 7的朋友们,现在可通过Windows 7 Test Drive在线测试网站也能体验Windows 7的各项功能了。
关键词 操作系统 在线测试 WINDOWS WINDOWS 网页 DRIVE 网站
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