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TFT基板玻璃清洗工序水循环系统杂质去除浅析 预览
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作者 赵虎 邱大战 《玻璃》 2019年第7期55-57,共3页
TFT基板玻璃生产过程中清洗工序通过盘刷、滚刷、二流体、超声波等单元清洗基板玻璃表面,去除掉生产过程中产生的玻璃粉、研磨粉、纸粉等杂质,每个单元都需要大量水冲淋基板玻璃,为节省用水量,水通过水箱滤芯过滤后循环使用,根据水中杂... TFT基板玻璃生产过程中清洗工序通过盘刷、滚刷、二流体、超声波等单元清洗基板玻璃表面,去除掉生产过程中产生的玻璃粉、研磨粉、纸粉等杂质,每个单元都需要大量水冲淋基板玻璃,为节省用水量,水通过水箱滤芯过滤后循环使用,根据水中杂质含量的不同滤芯的过滤精度也不同。普通过滤系统只有一个滤芯过滤,滤芯负载大,过滤能力弱。含有导流槽的过滤系统在滤芯前方增加一个导流槽,将大的杂质和颗粒从水中剥离出来,减轻了滤芯的负载,提高了水循环系统去除杂质能力,延长了滤芯的使用寿命,提升了水的水质。 展开更多
关键词 基板玻璃 水循环 杂质去除 滤芯 导流槽
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微波消解-电感耦合等离子体质谱法测定氧化铟锡靶材中13种痕量杂质元素 预览
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作者 墨淑敏 王长华 +1 位作者 李娜 邱长丹 《冶金分析》 CAS 北大核心 2019年第4期15-19,共5页
氧化铟锡中杂质元素的含量是衡量其产品性能的重要参数。采用盐酸以微波消解法处理样品,以Cs为内标,氩气模式下测定24Mg、27Al、52Cr、58Ni、63Cu、64Zn、90Zr、208Pb、205Tl、111Cd,氢气碰撞反应池模式测定28Si、40Ca、56Fe,实现了电... 氧化铟锡中杂质元素的含量是衡量其产品性能的重要参数。采用盐酸以微波消解法处理样品,以Cs为内标,氩气模式下测定24Mg、27Al、52Cr、58Ni、63Cu、64Zn、90Zr、208Pb、205Tl、111Cd,氢气碰撞反应池模式测定28Si、40Ca、56Fe,实现了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)对氧化铟锡靶材(ITO)中镁、铝、硅、钙、铬、铁、铜、镍、锌、锆、镉、铅、铊等13种痕量杂质元素的测定。实验表明,当氧化铟锡基体质量浓度为1.00mg/mL时,基体效应可忽略;13种杂质元素在1.0~100ng/mL范围内线性良好,线性相关系数均大于0.9990。方法检出限为0.002~0.15μg/g,测定下限为0.007~0.50μg/g。将方法应用于氧化铟锡靶材样品中13种痕量杂质元素的分析,相对标准偏差(RSD,n=7)均小于5%,加标回收率为88%~114%。采用实验方法对氧化铟锡靶材样品进行分析,并与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)进行比对,二者测定值基本一致。 展开更多
关键词 微波消解 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS) 氧化铟锡靶材 杂质元素
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基体分离-电感耦合等离子体质谱法测定高纯硒中13种杂质元素 预览
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作者 胡芳菲 于磊 +2 位作者 宋永清 王长华 祝利红 《分析测试技术与仪器》 CAS 2019年第2期127-130,共4页
采用基体分离-电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯硒中13种痕量杂质元素含量,优化了试验条件.利用二氧化硒在真空条件下升华温度低的特点挥发基体硒,选择合适的内标元素,考察基体效应的影响.结果表明,选择Cs作为待测元素的内标更合... 采用基体分离-电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯硒中13种痕量杂质元素含量,优化了试验条件.利用二氧化硒在真空条件下升华温度低的特点挥发基体硒,选择合适的内标元素,考察基体效应的影响.结果表明,选择Cs作为待测元素的内标更合适.测定硒残留量小于100μg/mL的样品,不影响各待测元素.方法检出限为0.007~0.033μg/g,RSD为5.7%~19%,加标回收率在90.2%~115%之间,可以满足高纯硒中痕量杂质元素含量的测定. 展开更多
关键词 基体分离 电感耦合等离子体质谱法 高纯硒 杂质元素
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ICP-AES法测定二氧化镎粉末中的杂质元素 预览
4
作者 何南玲 李秀娟 +5 位作者 姜国杜 覃波 晁余涛 汪南杰 贺燕 夏占国 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第3期539-545,共7页
建立了采用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)法测定二氧化镎粉末中Ca、Be、Cd等12种金属杂质元素含量的分析方法。采用HNO3-HF混酸体系于聚四氟乙烯坩埚中溶解二氧化镎粉末样品,样品溶液进行调价后再用TEVA树脂柱进行预处理,接收的样... 建立了采用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)法测定二氧化镎粉末中Ca、Be、Cd等12种金属杂质元素含量的分析方法。采用HNO3-HF混酸体系于聚四氟乙烯坩埚中溶解二氧化镎粉末样品,样品溶液进行调价后再用TEVA树脂柱进行预处理,接收的样品测试液采用ICP-AES法进行测量。结果表明,最佳分析条件为:取样量30 mg、样品溶解液采用过氧化氢在常温下调价约5 min、5 mol/L硝酸为淋洗液。在此条件下,元素的收率大于95%,各元素测量值的相对标准偏差为0.6%~4.8%(n=6),方法的加标回收率为93%~108%、检测限为0.07~8μg/g。 展开更多
关键词 二氧化镎 杂质元素 TEVA树脂柱 淋洗 ICP-AES
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ICP-AES法同时测定粗金中Ag、Cu、As、Ni、Se、Zn杂质元素 预览
5
作者 王学虎 马得莉 《甘肃冶金》 2019年第5期70-71,共2页
采用传统的敞开湿法分解试样,在稀盐酸介质中,用ICP-AES法同时测定粗金中的Ag、Cu、As、Ni、Se、Zn6种杂质元素。加标回收试验和精密度试验证明该方法简便快速,准确可靠。
关键词 粗金 ICP-AES 杂志元素
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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定四氨合硝酸铂中的杂质元素 预览
6
作者 张保明 华国防 李梅 《中国资源综合利用》 2019年第8期11-14,共4页
本试验将四氨合硝酸铂用水溶解,在硝酸介质中,用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铜、铅、锌、镍、铁、锰和铝的含量。样品加标回收率为93.78%~100.48%,精密度为0.45%~7.30%。与直流电弧发射光谱分析方法相比,该方法完全满足相关试... 本试验将四氨合硝酸铂用水溶解,在硝酸介质中,用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铜、铅、锌、镍、铁、锰和铝的含量。样品加标回收率为93.78%~100.48%,精密度为0.45%~7.30%。与直流电弧发射光谱分析方法相比,该方法完全满足相关试验要求。 展开更多
关键词 分析化学 四氨合硝酸铂 杂质元素 ICP-AES
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不同制样方法对直流辉光放电质谱法测定氮化硼中27种杂质元素的影响 预览
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作者 谭秀珍 李瑶 +1 位作者 朱刘 邓育宁 《冶金分析》 CAS 北大核心 2019年第8期23-29,共7页
讨论了3种制样方法对直流辉光放电质谱法(dc-GDMS)检测氮化硼中的Na、Mg、Al、Si等27种杂质元素的影响。3种制样方法分别如下所示:方法1,直接把氮化硼压在铟薄片上;方法2,把氮化硼压在铟薄片上后,再盖上一层铟罩;方法3,把压碎后的氮化... 讨论了3种制样方法对直流辉光放电质谱法(dc-GDMS)检测氮化硼中的Na、Mg、Al、Si等27种杂质元素的影响。3种制样方法分别如下所示:方法1,直接把氮化硼压在铟薄片上;方法2,把氮化硼压在铟薄片上后,再盖上一层铟罩;方法3,把压碎后的氮化硼放在针状钽勺上。在优化的辉光放电参数下对比了3种不同制样方法对基体信号强度的影响。试验表明:在方法1中,当氮化硼尺寸约为3mm×3mm,厚度小于1mm时,基体11B的信号可达1.8×10^7 cps;在方法2中,选择铟孔大小合适的铟罩,基体11B的信号可达1.0×10^7 cps;方法3获得基体信号强度比方法1、方法2高一个数量级。大部分元素在中分辨率下可获得较好的结果,而对于在高分辨率下也较难分离的元素,可选择丰度较低的同位素在中分辨率下进行测定,如Ge选择70 Ge^+,Se选择82 Se^+,Cd选择111 Cd^+,Sn选择119 Sn^+,Ag选择109 Ag^+,Pt选择194Pt^+。氮化硼中的杂质元素含量可通过样品片中待测元素含量减去来自于铟薄片或钽勺中该元素贡献的含量来计算获得。将样品平行测定5次,相对标准偏差均在20%以内。对于Al、Si、Ti等元素的测定,3种制样方法的测定结果基本一致;方法1、方法2中检测到的In含量较大,使得铟中的Ni、Cu对氮化硼的测定值影响较大;方法3由于钽中Fe、Cu的贡献导致氮化硼中Fe、Cu的检测值较大,但方法3获得的基体信号强度大,可降低部分元素的检出限,如Cr、Mn、Ga、Ge等。综上所述,方法3为优选方法。 展开更多
关键词 直流辉光放电质谱法(dc-GDMS) 氮化硼 制样方法 质谱干扰 杂质元素
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电感耦合等离子体质谱法测定高纯碳化钨粉中18种痕量杂质元素 预览
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作者 张颖 李林元 张蕾 《冶金分析》 CAS 北大核心 2019年第9期8-13,共6页
高纯碳化钨粉作为超细硬质合金生产的原料,其杂质元素含量的分析和控制十分重要。采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯碳化钨粉时,需先将样品中碳完全氧化除去后再进样测定,否则不溶的游离碳会堵塞仪器进样系统,引起信号波动,... 高纯碳化钨粉作为超细硬质合金生产的原料,其杂质元素含量的分析和控制十分重要。采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯碳化钨粉时,需先将样品中碳完全氧化除去后再进样测定,否则不溶的游离碳会堵塞仪器进样系统,引起信号波动,严重干扰测定。实验采取将样品于600~800℃马弗炉中氧化的方式除去游离碳,然后再用氨水消解样品,在优化测定同位素和仪器工作参数的基础上,采用屏蔽炬冷焰技术测定钙、铁、铬、镁、铝、锰、钴、镍、铜,采用常规模式测定砷、铋、镉、钼、铅、锑、锡、钛、钒以消除质谱干扰,以钨基体匹配法绘制校准曲线克服基体效应,控制基体质量浓度为0.5 mg/mL,实现了ICP-MS对高纯碳化钨粉中这18种元素的测定。在选定的工作条件下,各元素校准曲线的线性相关系数均大于0.999 5,方法检出限在0.006~0.330μg/g之间。应用实验方法测定高纯碳化钨粉样品中18种杂质元素,锡测定值的相对标准偏差(RSD,n=11)为24%,除锡外其他元素的RSD(n=11)均小于10%,测定值与直流电弧原子发射光谱法(ARC-AES)结果基本吻合。因高纯碳化钨粉样品在马弗炉中氧化后主要成分为三氧化钨,因此采用实验方法对三氧化钨标准样品中18种杂质元素进行测定以验证方法正确度,结果表明,测定值与认定值基本一致。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS) 高纯碳化钨粉 杂质元素 除碳
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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定纯钌中26种杂质元素 预览
9
作者 任传婷 马媛 +2 位作者 甘建壮 徐光 汪原伊 《冶金分析》 CAS 北大核心 2019年第5期71-76,共6页
准确测定纯钌中杂质元素含量对于钌粉产品性能和加工工艺具有重要意义。而钌基体对于大部分杂质元素都存在严重的干扰,直接测定难以得出准确结果。试验采用盐酸-氯酸钾在高温高压条件下消解纯钌样品,选用高氯酸冒烟除去样品中钌基体以... 准确测定纯钌中杂质元素含量对于钌粉产品性能和加工工艺具有重要意义。而钌基体对于大部分杂质元素都存在严重的干扰,直接测定难以得出准确结果。试验采用盐酸-氯酸钾在高温高压条件下消解纯钌样品,选用高氯酸冒烟除去样品中钌基体以消除基体干扰,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定纯钌中Pt、Pd、Rh、Ir、Au、Al、As、Be、Bi、Ca、Cd、Co、Cu、Fe、Mg、Mn、Na、Ni、Pb、Sn、V、Zn、Mo、Ti、Ga、Zr等26种杂质元素。各元素在0.10~10μg/mL范围内与其发射强度呈线性,相关系数均大于0.9995;方法中各元素的检出限为0.00006~0.012μg/mL。按照实验方法测定纯钌粉中26种杂质元素,结果的相对标准偏差(RSD,n=5)为1.1%~9.7%。加标回收率为89%~109%;采用实验方法测定钌粉样品中杂质元素,并采用辉光放电质谱法(GD-MS)直接测定进行比对,大部分元素测定结果均相吻合。 展开更多
关键词 纯钌 电感耦合等离子体原子发射光谱法 杂质元素
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电感耦合等离子体发射光谱法同时测定工业盐中的11种元素 预览
10
作者 钱津旺 毛智慧 +2 位作者 杨红燕 张云晖 陶明 《化学分析计量》 CAS 2018年第4期43-46,共4页
建立了电感耦合等离子体发射光谱法测定工业盐中的硅、钙、镁、铁、钾、铝、钡、锶、锰、铅和镍11种杂质元素的含量.采用硝酸溶液、氢氟酸溶液和水溶解样品,采用耐氢氟酸惰性进样系统直接进样.在最佳实验工作条件下,11种杂质元素在各自... 建立了电感耦合等离子体发射光谱法测定工业盐中的硅、钙、镁、铁、钾、铝、钡、锶、锰、铅和镍11种杂质元素的含量.采用硝酸溶液、氢氟酸溶液和水溶解样品,采用耐氢氟酸惰性进样系统直接进样.在最佳实验工作条件下,11种杂质元素在各自的检测范围内线性关系良好,相关系数均大于0.999,方法的检出限为0.01~4.00ng/mL.测定结果的相对标准偏差为2.35%~8.72%(n=11),样品加标回收率为88.6%~105.1%.该方法操作简便,测定结果准确、可靠,稳定性好,适用于工业盐中11种杂质元素的测定. 展开更多
关键词 电感耦合等离子体发射光谱法 工业盐 杂质元素
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738H高合金钢冶炼主要杂质成分控制研究 预览
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作者 张建师 秦登平 +2 位作者 魏锐 初仁生 王东柱 《河北冶金》 2018年第6期21-24,共4页
阐述了以738H为代表的高合金钢主要杂质元素成分控制方法。重点考虑合金增磷量,通过"转炉双渣+抑制炉后回磷"方法实现磷含量稳定控制在140 ppm;通过精炼造白渣操作进行深脱磷,实现硫含量稳定控制在30 ppm以下。
关键词 高合金钢 冶炼 杂质 元素 成分 控制
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ICP-AES法测定三氯化钌中铁、铜、钙和镁的量 预览
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作者 孙海荣 杨红玉 +1 位作者 喻生洁 吕庆成 《贵金属》 CSCD 北大核心 2018年第A01期209-211,共3页
建立了电感耦合等离子体发射光谱法测定三氯化钌中杂质元素含量的分析方法。通过优化仪器条件,选择合适的测定谱线、扣除背景测定样品中的杂质元素,各待测元素的精密度(RSD)为6.00%~16.4%,加标回收率为90.00%~110.0%。方法能满足三氯化... 建立了电感耦合等离子体发射光谱法测定三氯化钌中杂质元素含量的分析方法。通过优化仪器条件,选择合适的测定谱线、扣除背景测定样品中的杂质元素,各待测元素的精密度(RSD)为6.00%~16.4%,加标回收率为90.00%~110.0%。方法能满足三氯化钌产品中杂质元素的分析要求。 展开更多
关键词 分析化学 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES) 三氯化钌 杂质元素
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半导体级高纯双氧水中痕量杂质元素的检测 预览
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作者 蔡畅 陈黎明 《上海计量测试》 2018年第3期21-23,共3页
用高分辨电感耦合等离子体质谱测定半导体级高纯双氧水中的痕量金属杂质,用直接稀释法,把高纯双氧水稀释10倍后,用标准加入法进行上机检测,前处理简单、快速,避免了在样品前处理时的污染问题。高分辨电感耦合等离子体质谱可以消除多分... 用高分辨电感耦合等离子体质谱测定半导体级高纯双氧水中的痕量金属杂质,用直接稀释法,把高纯双氧水稀释10倍后,用标准加入法进行上机检测,前处理简单、快速,避免了在样品前处理时的污染问题。高分辨电感耦合等离子体质谱可以消除多分子离子干扰,降低检出限,提高定量准确性。方法的检出限为0.34~15.36 ng/L,加标法回收率为90.1%~102.5%。方法简单,结果可靠,适用于高纯双氧水中痕量元素的快速测定。 展开更多
关键词 半导体级高纯双氧水 检测 杂质元素
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多元光谱拟合校正-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铱化合物中19种杂质元素 预览 被引量:2
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作者 李秋莹 甘建壮 +3 位作者 何姣 方海燕 孙祺 王应进 《冶金分析》 CSCD 北大核心 2018年第9期63-68,共6页
铱化合物产品中杂质元素的准确测定,是判定产品级别的重要指标,以往常采用摄谱法进行测定,但Ca、Si、Mg、Fe、Na测定结果准确性差,周期较长。根据铱化合物易溶于水及酸的性质,采用盐酸溶解样品,电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES... 铱化合物产品中杂质元素的准确测定,是判定产品级别的重要指标,以往常采用摄谱法进行测定,但Ca、Si、Mg、Fe、Na测定结果准确性差,周期较长。根据铱化合物易溶于水及酸的性质,采用盐酸溶解样品,电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定了三氯化铱、四氯化铱、氯铱酸、氯铱酸铵等铱化合物中Pt、Pd、Ru、Rh、Ag、Au、Cu、Fe、Zn、Ni、Mn、Mg、Al、Ca、Sn、Na、Si、Pb、K等19种杂质元素。基体Ir对Pt、Sn产生的光谱干扰采用多元光谱拟合(MSF)方法校正,杂质元素间没有干扰。方法的检出限(μg/mL)为0.078(Pt)、0.0080(Pd)、0.014(Ru)、0.031(Rh)、0.0029(Ag)、0.016(Au)、0.0035(Cu)、0.012(Fe)、0.014(Zn)、0.0098(Ni)、0.0010(Mn)、0.0022(Mg)、0.0016(Al)、0.021(Ca)、0.057(Sn)、0.020(Na)、0.11(Si)、0.014(Pb)和0.0083(K)。按照实验方法测定三氯化铱中Pt、Pd、Ru、Rh、Ag、Au、Cu、Fe、Zn、Ni、Mn、Mg、Al、Ca、Sn、Na、Si、Pb、K等19种元素,结果的相对标准偏差(RSD,n=9)为1.2%~7.4%;加标回收率在89%~114%之间。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES) 多元光谱拟合(MSF) 铱化合物 杂质元素
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钼精矿真空冶炼过程中主要杂质元素分布的研究 预览
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作者 王磊 郭培民 +2 位作者 孔令兵 赵沛 田志凌 《有色金属:冶炼部分》 北大核心 2018年第8期37-41,共5页
为提高钼精矿真空分解产品的质量,降低产品中Si、Ca、Mg、Al等杂质的含量,在冶炼过程中加入了碳粉。对钼精矿中主要杂质元素Si、Ca、Mg、Al在真空分解过程中的分布进行了研究。结果表明,在钼精矿中加入碳粉,有利于杂质SiO2、Al2O3、MgO... 为提高钼精矿真空分解产品的质量,降低产品中Si、Ca、Mg、Al等杂质的含量,在冶炼过程中加入了碳粉。对钼精矿中主要杂质元素Si、Ca、Mg、Al在真空分解过程中的分布进行了研究。结果表明,在钼精矿中加入碳粉,有利于杂质SiO2、Al2O3、MgO、CaO的去除。在研究的温度范围内,硅脱除率~100%,镁脱除率~99.7%,铝脱除率~78.44%,随着碳含量的增加及时间的延长,其脱除率可能会进一步提高。钙脱除率~9.8%。采用品位为48%的低品位钼精矿为原料,在加入碳粉真空冶炼的条件下,得到的金属钼中钼含量达到了92%,S含量降至0.69%,主要杂质SiO2降至0.0021%,Cu〈0.005%,P〈0.005%,Mg降至0.001%,Al降至0.64%,Ca含量为0.51%。铁含量为4.44%,基本没有去除。 展开更多
关键词 钼精矿 杂质元素 真空分解 金属钼产品
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化学法测定纯金中的杂质元素研究 预览
16
作者 廖飞 《世界有色金属》 2018年第3期201-202,共2页
本文使用电感耦合等离子体质谱分析方法,建立一种对纯金中银、铁、铜、铅、锑、铋、砷7种杂质元素进行分析检测的方法。该方法在仪器工作最优条件下测定,发现检出限在0.27ng/m L~2.31ng/m L,样品添加回收率为98.6%~102.1%。该分析检... 本文使用电感耦合等离子体质谱分析方法,建立一种对纯金中银、铁、铜、铅、锑、铋、砷7种杂质元素进行分析检测的方法。该方法在仪器工作最优条件下测定,发现检出限在0.27ng/m L~2.31ng/m L,样品添加回收率为98.6%~102.1%。该分析检测方法以其具有较高的灵敏度、较低的检出限和检测便捷的特点适用于目前纯金生产的质量控制过程。 展开更多
关键词 化学法 纯金 杂质元素
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连铸铅黄铜棒锯切伤锯的原因分析及预防措施 预览
17
作者 叶东皇 《世界有色金属》 2018年第2期22-22,24共2页
针对连铸HPb58-2铅黄铜棒材锯切时易损伤锯片的问题,通过对锯切正常样和不良样的化学成分、金相组织、扫描电镜及能谱分析,认为导致伤锯的主要原因是杂质元素Al和Fe的含量偏高,Al使得合金基体硬度提高,Fe和Si、Cr等高熔点物质形成硬质相... 针对连铸HPb58-2铅黄铜棒材锯切时易损伤锯片的问题,通过对锯切正常样和不良样的化学成分、金相组织、扫描电镜及能谱分析,认为导致伤锯的主要原因是杂质元素Al和Fe的含量偏高,Al使得合金基体硬度提高,Fe和Si、Cr等高熔点物质形成硬质相,加快了锯片的磨损。通过原料分选后再投炉,并控制合金杂质元素含量:Al≤0.4%、Fe≤0.4%的措施,可有效避免问题的出现。 展开更多
关键词 铅黄铜 伤锯 连铸 硬质相 杂质元素
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辉光放电质谱法测定棒状高纯镁中12种杂质元素 预览 被引量:3
18
作者 刘元元 胡净宇 《冶金分析》 CSCD 北大核心 2018年第4期16-21,共6页
建立了辉光放电质谱法(GD-MS)测定棒状高纯镁中Al、Si、Ca、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Sn、Pb、Bi共12种主要杂质元素的方法。试验表明:棒状样品的放电表面积小、放电容易不稳,将放电电流设在47.0mA、气体流量设在599mL/min时,基体信号... 建立了辉光放电质谱法(GD-MS)测定棒状高纯镁中Al、Si、Ca、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Sn、Pb、Bi共12种主要杂质元素的方法。试验表明:棒状样品的放电表面积小、放电容易不稳,将放电电流设在47.0mA、气体流量设在599mL/min时,基体信号稳定且强度可满足测试的要求;预溅射15min可完全消除样品表面的Na、Fe、Ca等元素的污染。27Al、28Si、52Cr、55Mn、56Fe、58Ni、63Cu、64Zn、208Pb、209Bi丰度最高,在中分辨下分析即可得到较好的结果;由于存在40Ar对40Ca的干扰,所以选择44Ca作为分析同位素,在中分辨下进行分析即可得到较好的结果;120Sn与40Ar40Ar40Ar在分辨率大于7960时才能完全分开,所以在高分辨模式下以120Sn为测定同位素进行测定。按照实验方法对棒状高纯镁中12种杂质元素进行测定,相对标准偏差(RSD,n=5)为1.8%~10.9%,所有分析结果的标准偏差(SD,n=5)要小于国家标准方法GB/T13748中的重复性限量;测定值与电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法及电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)标准加入法的结果进行比对,大部分元素符合性较好,由于棒状镁样品的相对灵敏度因子(RSF)与标准RSF存在差异,Fe、Cu、Zn元素测定值差别较大,但是测定结果对高纯物质纯度定级无太大影响。 展开更多
关键词 辉光放电质谱(GD-MS)法 棒状样品 高纯镁 杂质元素
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SA335 P91焊接裂纹原因分析及对策
19
作者 陈泽盘 陈尚书 《中国化工装备》 CAS 2018年第2期27-32,共6页
通过对SA335 P91材料过热器出口集箱焊接裂纹位置、裂纹走向及金相特征综合分析,我们认为裂纹与焊接材料的纯度及焊接过程控制有关。根据分析结果,通过调整焊接材料,并对制造过程中的装配点固焊、预热、后热、背面保护、焊接参数选择等... 通过对SA335 P91材料过热器出口集箱焊接裂纹位置、裂纹走向及金相特征综合分析,我们认为裂纹与焊接材料的纯度及焊接过程控制有关。根据分析结果,通过调整焊接材料,并对制造过程中的装配点固焊、预热、后热、背面保护、焊接参数选择等进行控制,最终避免了焊接裂纹的产生,确保了焊缝的质量,及时地完成了产品的交付。 展开更多
关键词 SA335 P91钢 焊接裂纹 杂质元素 预热 后热 线能量
沉淀分离后电感耦合等离子体发射光谱法分析99.99%银中的杂质元素 预览 被引量:1
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作者 张帆 王浩杰 +3 位作者 蔡薇 王鑫磊 黄成 王亮 《生物化工》 2018年第6期106-107,119共3页
本文对硝酸溶解-沉淀分离银基体的制备方法进行了改进,通过此种方法制备样品后,在电感耦合等离子体发射光谱上测定纯银中的杂质元素含量。实验结果表明,加标量为0.2μg/mL时,20种杂质元素的回收率在90%~110%,分析结果准确,检出限低,解... 本文对硝酸溶解-沉淀分离银基体的制备方法进行了改进,通过此种方法制备样品后,在电感耦合等离子体发射光谱上测定纯银中的杂质元素含量。实验结果表明,加标量为0.2μg/mL时,20种杂质元素的回收率在90%~110%,分析结果准确,检出限低,解决了单一硝酸很难溶解杂质元素金和铂的问题,可用于测定银含量为99.99%的银产品中的杂质元素。 展开更多
关键词 沉淀分离 电感耦合等离子体发射光谱 纯银 杂质元素
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