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利用半导体自动测试设备测定负载板继电器性能 预览
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作者 邢轶斌 徐海滨 康永 《中国金属通报》 2019年第8期191-192,共2页
本文对半导体自动测试设备的相关概念做出了简要的阐释,并论述了负载板继电器的性能和特点,并在现有的对半导体自动测试设备及负载板和继电器的研究的基础上,提出了全新的有关半导体自动测试设备测定过程的设计理念。利用半导体自动测... 本文对半导体自动测试设备的相关概念做出了简要的阐释,并论述了负载板继电器的性能和特点,并在现有的对半导体自动测试设备及负载板和继电器的研究的基础上,提出了全新的有关半导体自动测试设备测定过程的设计理念。利用半导体自动测试设备,设计出的测试负载版电路及测试程序界面对各类继电器均有一定的适应性,通过编写一定的测试程序来对负载板开关继电器的反应时间、工作功率、温度等相关参数进行实验和测试。 展开更多
关键词 半导体自动测试设备 负载板继电器性能
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RF芯片测试技术研究 预览
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作者 余琨 《中国集成电路》 2015年第3期41-46,55共7页
本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术。然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对R... 本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术。然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对RF芯片关键参数进行测试,实现RF芯片自动测试方法的创新。通过本论文的研究,可以为RF芯片提供相应的测试解决方案。 展开更多
关键词 RF芯片 测试技术 半导体自动测试设备 增益 相位噪声
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